저항계 |
HI-RM3543 | |
HI-RM3543-01 | GP-IB 탑재 |
테스트 픽스처는 본체에 포함되어 있지 않습니다. 옵션의 테스트 픽스처를 선택하십시오.
초저저항, 션트 저항기에 대응하는 저항계 |
저항계 RM3543은 저션트 저항 등의 직류 저항을 0.1mΩ을 ± 0.16 %의 정확도 및 0.01μΩ의 고분해능※에서 측정할 수 있습니다.
(※ 10mΩ 레인지, 측정 속도 SLOW, 애버리지 16회 설정 조건에서)
열기 전력의 영향을 경감시키는 오프셋 전압 보정 기능 |
열기 전력은 이종 금속의 연결 부분에서 발생하는 전위차를 뜻합니다 (그림).
구체적으로, 측정 프로브와 측정 대상이 접촉하는 부분, 측정기와 측정 리드의 연결 부분에서 발생합니다.
열기 전력의 크기는 측정 환경의 온도에 따라 상이하여, 온도차가 클수록 열기 전력은 커집니다.
RM3543은 측정 전류를 정/부 양방향으로 흘리고 각각의 검출 전압을 이용하여
열기 전력의 영향을 제거하는 오프셋 전압 보정 기능을 탑재하고 있습니다.
스케일링 가능으로 설치 상태를 보정하여 측정 가능 |
스케일링 기능을 통해 기판 설치시와 단품 검사시 저항값의 차이(프로빙 위치의 영향 등)를 보정할 수 있습니다.
션트 등 저저항의 전류검출저항 검사에 탁월합니다.
빠르고 확실한 컨택트, 접촉 개선 기능 |
측정 시료에 컨택트할 때, 프로브와 시료간의 산화 피막이나 때, 먼지 등을 뚫고 접촉을 개선합니다.
접촉 불량 개선을 통한 안정된 측정과 컨택트 에러율의 저감은 생산성 향상으로 이어집니다.
4 단자 측정을 확실하게 유지, 프로브 단락 검출 기능 |
측정 프로브의 POT-CUR 사이에 금속 이물질이 생기면 확실한 4 단자 연결을 유지할 수 없게 됩니다.
비측정시에 POT-CUR 사이의 저항값을 측정하여 프로브의 합선 이상을 체크합니다.