저항계 |
HI-RM3542-50 | |
HI-RM3542-51 | GP-IB 탑재 |
테스트 픽스처는 본체에 포함되어 있지 않습니다. 자동화 설비 임베디드 용도를 상정하고 있으니, 용도에 맞게 직접 작성 부탁드립니다.
GP-IB는 RM3542-51에만 탑재
인가 전압 제한 기능으로 극소 전자 부품 (0201 사이즈)까지 손쉽게 측정 |
측정시의 인가 전압을 5V 이하로 제한함으로써, 정격 전압이 작은 0201 사이즈의 부품도 스트레스 없이 측정할 수 있습니다.
빠르고 확실한 컨택트, 접촉 개선 기능 |
측정 시료에 컨택트할 때, 프로브와 시료간의 산화 피막이나 때, 먼지 등을 뚫고 접촉을 개선합니다.
접촉 불량 개선을 통한 안정된 측정과 컨택트 에러율의 저감은 생산성 향상으로 이어집니다.
저전력 측정을 위한 접촉 개선 기능이 진화 |
접촉 개선을 실시 할 때 측정 시료에 흘러드는 돌입 전류를 억제함으로써 소형 페라이트 비드 및 0201 크기의 극소 저항기 검사 등,
접촉 개선의 사용 폭이 넓어졌습니다.
스케일링 기능으로 설치 상태를 보정하여 측정 가능 |
스케일링 기능을 통해 기판 설치시와 단품 검사시 저항값의 차이(프로빙 위치의 영향 등)를 보정할 수 있습니다.
션트 등 저 저항의 전류검출저항 검사에 탁월합니다.