기판 제조 공정의 각종 검사가 누락되어 시장에 출시될 가능성이 높은 불량 중 하나는 리드 유사 접촉 불량입니다.

리드 들뜸은 기동 시험이나 기능 검사 또는 현재의 화상 검사 기술이라면 거의 확실하게 잡아낼 수 있습니다. 따라서 외관으로는 찾기 어려운 유사 접촉 상태를 감지하는 것이 HIOKI의 독자적인 저항 측정식 유사 접촉 검사입니다.

리드와 필렛 사이의 저항을 4 단자 측정 방식 (켈빈 방식)을 이용하여 정확하게 측정, 납땜이 정상으로 올랐을 때의 저항값과의 차이를 명확히 합니다.

워크 플로우에 따라 진행하는 것만으로 검사 데이터가 완성되는 원 루트 시스템.

평상시의 데이터 작성이 간단해 질 뿐만 아니라, 업무 인수인계 시에도 보고있는 것만으로 파악할 수 있는 간단한 시스템입니다.

프로브 끝을 들여다보고 “닿았나? 닿지 않았나?”를 확인하고 계십니까?
이러한 프로브 선택 작업을 없애 작업자의 디버그 공수를 격감시킬 수 있게 되었습니다.

FA1240은 부품 단위로 높이와 실장 사이즈를 추가, 이 정보들을 바탕으로 검사 프로브를 자동으로 선택합니다 

(사용할 수 없는 프로브의 선택도 가능). 안심하고 전기 검사 디버깅에 착수할 수 있습니다.

신형 초경 프로브는 300 만번의 컨택트로도 선단부 마모가 없습니다.

프로브의 교환 작업이 줄어들어, 미소 포인트 컨택트 성능이 시간적으로도 향상됩니다.
선단부 마모는 프로브 미끄럼의 주 원인이며, 원 패스율의 저하뿐만 아니라 최악의 경우 기판에 손상을 줄 수도 있습니다. 프로브의 품질은 검사 장치의 성능을 평가하는 중요한 항목입니다.

플라잉 4단자 프로브로 배터리 모듈 검사를 "고속" "고정밀도" 픽스처 없이" 실시할 수 있습니다.

UA1780 소프트웨어(옵션)와 함께 사용하여 재작업이 적고 단시간에 고퀄리티 검사 프로그램을 작성할 수 있습니다.

"플라잉 프로브 테스터는 데이터 작성이 힘들다"고 생각하는 분들이야말로 최신 데이터 작성 시스템을 벤치마크로 체험해 보십시오.

간단히 데이터를 작성할 수 있다 ≠ 간단히 검사할 수 있다라는 것은 절반은 맞고 절반은 틀립니다.
디스크리트 시대라면 같다고 해도 상관없지만, FA1240이 추구하는 검사 데이터 작성은 "간단, 정확하게" 작성할 수 있는 것입니다.
검사기가 작동하는 데이터와, 출하할 수 있는 검사 데이터의 차이를 최소화함으로써 (디버그 등에 의한) 

생산라인의 정지 시간을 최소화하고 안심하고 제품을 출하할 수 있게 됩니다.

"사용 가능한" 검사 데이터를 "빠르게" 작성하는 것을 고집한 결과, 거버 데이터와 마운트 데이터로 데이터를 작성하게 되었습니다.

검사 데이터 작성 소프트웨어 FIT-LINE UA1780
http://www.hiokikorea.com/product/product_view.html?c_id=255&p_no=255